期刊簡介

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發再到制造規模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數據庫。這個可靠性數據庫是滿足客戶期望的優質產品的基礎。這樣開發的產品具有高可靠性。高質量將實現，因為產品弱點將被發現（根本原因分析）并在最終產品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質量的過程將產生卓越的產品。歸根結底，可靠性和質量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產品在客戶條件下在現場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產品的創造至關重要。

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability創刊于2001年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。其研究的主題領域包括但不限于工程技術-工程：電子與電氣，是一本在工程技術領域具有重要影響力的國際期刊。該期刊涵蓋了工程技術的多個子領域，旨在全面理解和解決工程技術問題。

根據最新的數據，IEEE Transactions on Device and Materials Reliability的影響因子為2.5，CiteScore為4.8，h-index為63，SJR為0.436，SNIP為1.148，中科院分區為3區，這些指標均顯示了該期刊在工程技術領域的優秀地位。

該刊以English作為出版語言。對于English非母語的作者，期刊建議使用語言編輯服務，以確保文稿的語法和拼寫錯誤得到糾正，并符合科學English的標準。如果想實現快速順利的投稿發表，建議您聯系本站的客服團隊，將為您提供專業的選刊建議，并在整個投稿過程中提供細致的指導。